| 标准编号 |
标准名称 |
| GB/T 4931-2000 |
氦氖激光器系列型谱 |
| GB/T 4932-2000 |
二氧化碳激光器系列型谱 |
| GB/T 7424.1-1998 |
光缆 第1部分:总规范 |
| GJB 4027-2000 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 |
| SJ 11237-2001 |
不间断电源系统(UPS) 在操作人员接触区内使用的UPS的通用和安全要求 |
| SJ 1123-76 |
ＱＳ３０－１型辉光放电数字管 |
| SJ 11240-2001 |
信息技术 汉字编码字符集（基本集）12点阵字型 |
| SJ 11241.1-2001 |
信息技术
通用多八位编码字符集（I区）汉字64点阵字型
第1部分：宋体 |
| SJ 11241.2-2001 |
信息技术
通用多八位编码字符集（I区）汉字64点阵字型
第2部分：黑体 |
| SJ 11241.3-2001 |
信息技术
通用多八位编码字符集（I区）汉字64点阵字型
第3部分：楷体 |
| SJ 11241.4-2001 |
信息技术
通用多八位编码字符集（I区）汉字64点阵字型
第4部分：仿宋体 |
| SJ 11241-2001 |
信息技术 汉字编码字符集（基本集）14点阵字型 |
| SJ 11242.1-2001 |
信息技术 通用多八位编码字符集(Ⅰ区)汉字64点阵字型 第1部分:宋体 |
| SJ 11242.2-2001 |
信息技术 通用多八位编码字符集(Ⅰ区)汉字64点阵字型 第2部分:黑体 |
| SJ 11242.3-2001 |
信息技术 通用多八位编码字符集(Ⅰ区)汉字64点阵字型 第3部分:楷体 |
| SJ 11242.4-2001 |
信息技术 通用多八位编码字符集(Ⅰ区)汉字64点阵字型 第4部分:仿宋体 |
| SJ 11267-2002 |
电子设备用压敏电阻器安全要求 |
| SJ 1128-77 |
电影放映用扬声器系统电声参数和要求 |
| SJ 1129-77 |
扬声器系统电声参数测试方法（暂行） |
| SJ 1130-77 |
２ＤＬ５１～５６、２ＣＬ５１～５６型硅高压整流堆 |
| SJ 1131-77 |
射频电缆总技术条件 |
| SJ 1132-77 |
实心聚乙烯绝缘射频电缆 |
| SJ 1134-77 |
射频电缆电容和电容不平衡系数测量方法 |
| SJ 1135-77 |
射频电缆特性阻抗测量方法 |
| SJ 1136-77 |
射频电缆衰减常数测量方法 |
| SJ 1137-77 |
射频电缆高温试验方法 |
| SJ 1138-77 |
射频电缆低温试验方法 |
| SJ 1139-77 |
射频电缆电容和衰减稳定性试验方法 |
| SJ 1140-77 |
射频电缆流动性试验方法 |
| SJ 1141-77 |
射频电缆尺寸稳定性试验方法 |
| SJ 1142-82 |
精密单圈线绕电位器总技术条件 |
| SJ 1143-77 |
Ｂ－１０１型低噪声行波管 |
| SJ 1145-77 |
电容器用有机薄膜电性能试验方法一般要求 |
| SJ 1146-77 |
电容器用有机薄膜体积电阻系数试验方法 |
| SJ 1147-77 |
电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电系数试验方法 |
| SJ 1148-77 |
电容器用有机薄膜击穿强度试验方法 |
| SJ 1151-77 |
粮食水分电子测量仪器技术条件 |
| SJ 1152-77 |
粮食温度电子测量仪器技术条件 |
| SJ 1153-77 |
集成电路制图规则 |
| SJ 1155-82 |
敏感电阻型号命名方法 |
| SJ 1158-77 |
ＭＦ１１型普通用负温度系数热敏电阻器 |
| SJ 1159-77 |
ＭＦ１２型普通用负温度系数热敏电阻器 |
| SJ 1160-77 |
ＭＦ１３型普通负温度系数热敏电阻器 |
| SJ 1161-77 |
ＭＦ１４型普通用负温度系数热敏电阻器 |
| SJ 1162-77 |
ＭＦ１５型普通用负温度系数热敏电阻器 |
| SJ 1163-77 |
ＭＦ１６型普通用负温度系数热敏电阻器 |
| SJ 1164-77 |
钎焊、封接代号及标注方法 |
| SJ 1165-77 |
阴极射线荧光粉
Ｙ６荧光粉 |
| SJ 1167-77 |
阴极射线荧光粉
Ｙ１０荧光粉 |
| SJ 1168-77 |
阴极射线荧光粉
Ｙ１２荧光粉 |
| SJ 1169-77 |
阴极射线荧光粉
Ｙ３０荧光粉 |
| SJ 11-74 |
小功率电子管跨导的测试方法 |
| SJ 1174-77 |
Ｘ射线管测试条件 |
| SJ 1175-77 |
Ｘ射线管最大反向峰值电压的测试方法 |
| SJ 1176-77 |
Ｘ射线管最大功率的测试方法 |
| SJ 1177-77 |
Ｘ射线管阳极电流的测试方法 |
| SJ 1178-77 |
Ｘ射线管最高工作电压的测试方法 |
| SJ 1179-77 |
Ｘ射线管超电压的测试方法 |
| SJ 1180-77 |
Ｘ射线管光学焦点尺寸的测试方法 |
| SJ 1181-77 |
Ｘ射线管辐射场形状和尺寸的测试方法 |
| SJ 1182-77 |
Ｘ射线管Ｘ射线剂量率的测试方法 |
| SJ 1183-77 |
Ｘ射线管光谱纯度的测试方法（暂行） |
| SJ 1184-77 |
Ｘ射线管固有滤过当量的测试方法（暂行） |
| SJ 1185-77 |
彩色电视测量测试卡（CT752卡）（暂行） |
| SJ 119-86 |
中心安装的ＫＸ０１型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径５５毫米 |
| SJ 1223-77 |
二进制逻辑电路图形符号 |
| SJ 1224-77 |
真空蒸发设备通用技术条件 |
| SJ 1225-77 |
２ＡＰ１１～２ＡＰ１７型锗检波二极管 |
| SJ 122-65 |
ＫＮＧ２型钮子开关 |
| SJ 1226-77 |
２ＡＰ９～２ＡＰ１０型锗检波二极管 |
| SJ 1227-77 |
２ＡＰ１～２ＡＰ８、２ＡＰ２１和２ＡＰ２７型锗检波二极管 |
| SJ 1228-77 |
２ＡＰ３０～２ＡＰ３１型锗宽带检波二极管 |
| SJ 1229-77 |
２ＡＫ１～２０型锗开关二极管 |
| SJ 1230-77 |
锗检波二极管高频整流电流的测试方法 |
| SJ 1231-77 |
锗开关二极管反向恢复时间的测试方法 |
| SJ 1232-77 |
聚苯乙烯电容器总技术条件 |
| SJ 1233-77 |
ＣＢ１０型聚苯乙烯电容器 |
| SJ 1234-77 |
ＣＢ１１型聚苯乙烯电容器 |
| SJ 1235-77 |
ＣＢ１４型精密聚苯乙烯电容器 |
| SJ 123-65 |
ＫＷ型微动开关 |
| SJ 1239-77 |
ＣＢ８０型高压聚苯乙烯电容器 |
| SJ 1241-77 |
纸介电容器总技术条件 |
| SJ 1245-77 |
ＣＺ３１型密封纸介电容器 |
| SJ 1247-77 |
ＣＺ４０型密封纸介电容器 |
| SJ 1248-77 |
ＣＺ４１型密封纸介电容器 |
| SJ 1249-77 |
ＣＺ８２型高压密封纸介电容器 |
| SJ 1252-77 |
普通单圈线绕电位器总技术条件 |
| SJ 1258-77 |
磁性材料与器件术语及定义 |
| SJ 1263-77 |
单相变压器用ＸＥＤ、ＸＣＤ型Ｃ形铁芯 |
| SJ 1264-77 |
三相变压器用Ｅ形铁芯 |
| SJ 1266-84 |
叉指型散热器 |
| SJ 1267-77 |
半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法 |
| SJ 1269-77 |
ＦＢＪ型通心玻璃粉绝缘子 |
| SJ 1270-77 |
通心玻璃绝缘子 |
| SJ 1271-77 |
陶瓷装置零件公差 |
| SJ 1272-77 |
信息交换用９磁道３２行／毫米记录磁带 |
| SJ 1273-77 |
信息交换用七单位字符编码在磁带上的表示方法 |
| SJ 12-74 |
小功率电子管放大系数的测试方法 |
| SJ 1274-77 |
金刚石拉丝模 |
| SJ 1276-77 |
金属镀层和化学处理层质量检验技术要求 |
| SJ 1277-77 |
金属镀层和化学处理层质量检验验收规则 |
| SJ 1278-77 |
金属镀层和化学处理层外表的检验方法 |
| SJ 1279-77 |
金属镀层硬度的检验方法 |
| SJ 1280-77 |
金属镀层孔隙率的检验方法 |
| SJ 1281-77 |
金属镀层和化学处理层厚度的检验方法 |
| SJ 1282-77 |
金属镀层结合力的检验方法 |
| SJ 1283-77 |
金属镀层和化学处理层腐蚀试验方法 |
| SJ 1284-77 |
金属镀层腐蚀试验结果评定方法 |
| SJ 1285-77 |
铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法 |
| SJ 1286-77 |
ＦＵ－１０５Ｚ型电子管 |
| SJ 1287-77 |
ＦＵ－１０１Ｆ（Ｚ）型电子管 |
| SJ 1288-78 |
计数抽样检查程序及抽样表 |
| SJ 1296-78 |
连续波磁控管测试条件 |
| SJ 1297-78 |
连续波磁控管输出功率的测试方法 |
| SJ 1298-78 |
连续波磁控管振荡频率的测试方法 |
| SJ 1299-78 |
连续波磁控管频率牵引的测试方法 |
| SJ 1300-78 |
连续波磁控管稳定性的测试方法 |
| SJ 1301-78 |
连续波磁控管频率温度系数的测试方法 |
| SJ 1302-78 |
连续波磁控管电子频移（频率推移系数）的测试方法 |
| SJ 1303-78 |
连续波磁控管工作特性的测试方法 |
| SJ 1304-78 |
连续波磁控管负载特性的测试方法 |
| SJ 1305-78 |
连续波磁控管泄漏功率的测试方法 |
| SJ 1306-78 |
电压调谐磁控管测试条件 |
| SJ 1307-78 |
电压调谐磁控管阳极电流和控制极电流的测试方法 |
| SJ 1308-78 |
电压调谐磁控管工作频率范围的测试方法 |
| SJ 1309-78 |
电压调谐磁控管输出功率的测试方法 |
| SJ 1310-78 |
电压调谐磁控管功率波动的测试方法 |
| SJ 1311-78 |
电压调谐磁控管电压调谐灵敏度的测试方法 |
| SJ 1312-78 |
电压调谐磁控管频率温度系数的测试方法 |
| SJ 1313-78 |
电压调谐磁控管频率稳定性的测试方法 |
| SJ 1314-78 |
电压调谐磁控管电压调谐与频率对应值的测试方法 |
| SJ 1315-78 |
电压调谐磁控管电压调谐非线性度的测试方法 |
| SJ 1316-78 |
电压调谐磁控管寄生振荡信噪比的测试方法 |
| SJ 1317-78 |
电压调谐磁控管泄漏功率的测试方法 |
| SJ 1318-78 |
彩色显像管测试方法（暂行） |
| SJ 1326-78 |
固定电阻器试验方法 |
| SJ 1327-78 |
固定电容器试验方法 |
| SJ 1329-78 |
普通线绕电阻器总技术条件 |
| SJ 1330-78 |
ＲＸ２０型功率型被釉线绕电阻器 |
| SJ 1332-78 |
ＲＸ２２型被釉线绕电阻器 |
| SJ 1333-78 |
电视接收机用偏转磁芯 |
| SJ 1334-78 |
光电管总技术条件 |
| SJ 1335-78 |
光电倍增管总技术条件 |
| SJ 1336-78 |
光电管测试条件 |
| SJ 1337-78 |
光电管灵敏度的测试方法 |
| SJ 1338-78 |
光电管放大因数的测试方法 |
| SJ 1339-78 |
光电管暗电流的测试方法 |
| SJ 1340-78 |
光电管线性电流的测试方法 |
| SJ 1341-78 |
光电管击穿电压的测试方法 |
| SJ 1342-78 |
光电管光谱响应特性的测试方法 |
| SJ 1343-78 |
光电管伏安特性的测试方法 |
| SJ 1344-78 |
光电管频率响应特性的测试方法 |
| SJ 1345-78 |
光电管稳压性的测试方法 |
| SJ 1346-78 |
光电管最大阳极电压的测试方法 |
| SJ 1347-78 |
光电管最大阳极电流的测试方法 |
| SJ 1348-78 |
光电倍增管测试条件 |
| SJ 1349-78 |
光电倍增管阴极灵敏度的测试方法 |
| SJ 1350-78 |
光电倍增管阳极灵敏度的测试方法 |
| SJ 1351-78 |
光电倍增管电流增益的测试方法 |
| SJ 1352-78 |
光电倍增管暗电流的测试方法 |
| SJ 1353-78 |
光电倍增管线性电流的测试方法 |
| SJ 1354-78 |
光电倍增管信号脉冲幅度的测试方法 |
| SJ 1355-78 |
光电倍增管幅度分辨率的测试方法 |
| SJ 1356-78 |
光电倍增管噪声的测试方法 |
| SJ 1357-78 |
光电倍增管脉冲上升时间的测试方法 |
| SJ 135-81 |
ＪＲ－１型直流电磁继电器 |
| SJ 1358-78 |
光电倍增管脉冲响应宽度的测试方法 |
| SJ 1359-78 |
光电倍增管渡越时间的测试方法 |
| SJ 1360-78 |
光电倍增管渡越时间分散的测试方法 |
| SJ 1361-78 |
光电倍增管光谱响应特性的测试方法 |
| SJ 1362-78 |
光电倍增管阳极特性的测试方法 |
| SJ 1363-78 |
光电倍增管阴极均匀性的测试方法 |
| SJ 1364-78 |
光电倍增管稳定性的测试方法 |
| SJ 1365-78 |
光电倍增管最大阳极电压的测试方法 |
| SJ 1366-78 |
光电倍增管最大阳极电流的测试方法 |
| SJ 1367-78 |
电子元器件密封性试验方法 |
| SJ 1368-78 |
半导体收音机用薄膜介质可变电容器总技术条件（暂行） |
| SJ 1370-78 |
ＣＢＭ－４４３ＢＦ、ＣＢＭ－４０３ＢＦ型调频调幅四联薄膜介质可变电容器（暂行） |
| SJ 1372-78 |
塑料制件尺寸公差 |
| SJ 1373-78 |
传真机型号命名方法 |
| SJ 13-74 |
小功率电子管内阻的测试方法 |
| SJ 1374-78 |
电传打字机型号命名方法 |
| SJ 137-65 |
图形符号 |
| SJ 1381-78 |
实验二极管结构与工艺 |
| SJ 1382-78 |
ＦＵ－８２２Ｚ（Ｆ）型电子管 |
| SJ 1383-78 |
ＦＵ－１０４Ｚ型电子管 |
| SJ 1385-78 |
噪声二极管和气体放电噪声管总技术条件 |
| SJ 1386-78 |
噪声二极管和气体放电噪声管测试条件 |
| SJ 1387-78 |
噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法 |
| SJ 1388-78 |
噪声二极管阳极电导的测试方法 |
| SJ 1389-78 |
噪声二极管极间漏电流的测试方法 |
| SJ 1390-78 |
噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法 |
| SJ 1391-78 |
噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法 |
| SJ 1392-78 |
噪声二极管超噪功率的测试方法 |
| SJ 1393-78 |
气体放电噪声管阴极预热时间的测试方法 |
| SJ 1394-78 |
气体放电噪声管着火电压的测试方法 |
| SJ 1395-78 |
气体放电噪声管阳极电流和管压降的测试方法 |
| SJ 1396-78 |
气体放电噪声管电压驻波系数的测试方法 |
| SJ 1397-78 |
气体放电噪声管衰减量的测试方法 |
| SJ 139-81 |
半导体三极管外形尺寸 |
| SJ 1398-78 |
气体放电噪声管超噪比及其不稳定度的测试方法 |
| SJ 1399-78 |
电子产品及材料霉菌试验方法 |
| SJ 1400-78 |
半导体器件参数符号 |
| SJ 1401-78 |
普通单圈旋转式非线绕电位器总技术条件 |
| SJ 1404-78 |
接插元件测试方法 |
| SJ 1405-78 |
３ＤＡ１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 |
| SJ 1406-78 |
３ＤＡ９６型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 |
